幾(ji)乎任何(he)由普通(tong)結構金(jin)屬(shu)制成(cheng)的(de)(de)(de)(de)樣(yang)件(jian)都容易(yi)(yi)受到腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)。很(hen)多行業面臨的(de)(de)(de)(de)一個(ge)(ge)特(te)別嚴重的(de)(de)(de)(de)問題是(shi)對內側可(ke)能(neng)(neng)出現(xian)(xian)了銹(xiu)蝕(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)管道、管子或箱(xiang)(xiang)罐的(de)(de)(de)(de)剩余壁(bi)厚進行測(ce)(ce)量(liang)。在(zai)沒有(you)(you)切(qie)割(ge)或拆卸管道或箱(xiang)(xiang)罐的(de)(de)(de)(de)情(qing)況下，僅憑肉眼觀察(cha)，通(tong)常不(bu)能(neng)(neng)發(fa)現(xian)(xian)這類銹(xiu)蝕(shi)(shi)缺陷。結構性(xing)鋼(gang)梁，特(te)別是(shi)橋(qiao)梁的(de)(de)(de)(de)支柱和鋼(gang)樁，也很(hen)容易(yi)(yi)受到腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)，而腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)就會(hui)使(shi)這些部件(jian)原來(lai)的(de)(de)(de)(de)金(jin)屬(shu)厚度減少。如(ru)果出現(xian)(xian)了腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)，卻在(zai)相當長(chang)的(de)(de)(de)(de)一段時(shi)間(jian)內沒有(you)(you)被發(fa)現(xian)(xian)，則(ze)腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)會(hui)蔓延，會(hui)減弱金(jin)屬(shu)壁(bi)的(de)(de)(de)(de)支撐(cheng)強度，還可(ke)能(neng)(neng)導致危險(xian)的(de)(de)(de)(de)結構性(xing)損(sun)壞。考慮到安全和經(jing)濟兩個(ge)(ge)方面的(de)(de)(de)(de)因素，我們需(xu)要(yao)對易(yi)(yi)受腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)金(jin)屬(shu)管道、金(jin)屬(shu)箱(xiang)(xiang)罐或金(jin)屬(shu)結構框架進行定期檢(jian)測(ce)(ce)。在(zai)這類腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)檢(jian)測(ce)(ce)應用中，超(chao)聲檢(jian)測(ce)(ce)是(shi)一種(zhong)已經(jing)得到廣泛(fan)認(ren)可(ke)的(de)(de)(de)(de)無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)(ce)方式(shi)，而對銹(xiu)蝕(shi)(shi)金(jin)屬(shu)的(de)(de)(de)(de)超(chao)聲檢(jian)測(ce)(ce)通(tong)常使(shi)用雙晶探頭完成(cheng)。

有幾種(zhong)小型(xing)手持式超(chao)聲測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)專(zhuan)門用(yong)(yong)(yong)于腐蝕(shi)測(ce)(ce)量應用(yong)(yong)(yong)。一(yi)般來(lai)說，這些測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)需要(yao)與一(yi)組(zu)專(zhuan)用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)雙晶探(tan)頭一(yi)起使用(yong)(yong)(yong)完成檢測(ce)(ce)應用(yong)(yong)(yong)。這組(zu)探(tan)頭涵蓋了(le)各種(zhong)厚(hou)度范圍和各種(zhong)溫度條件。在某些關(guan)鍵性的(de)(de)(de)應用(yong)(yong)(yong)中，特別是在溫度較(jiao)高的(de)(de)(de)情況下，用(yong)(yong)(yong)戶可(ke)能會要(yao)求使用(yong)(yong)(yong)一(yi)種(zhong)超(chao)聲波形(xing)顯(xian)示視圖，以核查是否探(tan)測(ce)(ce)到了(le)有效的(de)(de)(de)回(hui)波。38DL PLUS超聲測厚儀的(de)(de)波形顯(xian)示視(shi)圖可(ke)滿足用戶的(de)(de)這(zhe)(zhe)種要求。要了解(jie)有(you)關(guan)這(zhe)(zhe)款儀器(qi)(qi)的(de)(de)完整信息，請參閱儀器(qi)(qi)的(de)(de)數據表。另一款專用于(yu)這(zhe)(zhe)類檢(jian)測的(de)(de)儀器(qi)(qi)是45MG測厚儀。在腐蝕檢測應用中，雙(shuang)晶探(tan)頭可(ke)有效地與探(tan)傷(shang)儀一起使用。數字式探(tan)傷(shang)儀，如：奧林巴斯的EPOCH系列（EPOCH 650和EPOCH 6LT探傷儀），不僅可(ke)以進行厚度測量，還可(ke)以提供波形(xing)顯示視圖(tu)。

探頭選擇

任何(he)超聲測(ce)(ce)(ce)(ce)量系統（探頭(tou)加(jia)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀，或探頭(tou)加(jia)探傷儀）都(dou)有一個(ge)最(zui)(zui)(zui)(zui)小(xiao)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)，低于這(zhe)個(ge)限度(du)(du)(du)，就(jiu)不會(hui)(hui)(hui)完(wan)成有效(xiao)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)量。通常，在生產商(shang)的(de)(de)(de)說(shuo)明(ming)文件(jian)中(zhong)會(hui)(hui)(hui)明(ming)確(que)標(biao)出這(zhe)個(ge)最(zui)(zui)(zui)(zui)小(xiao)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)值(zhi)。隨著探頭(tou)頻率的(de)(de)(de)增加(jia)，最(zui)(zui)(zui)(zui)小(xiao)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)會(hui)(hui)(hui)降低。 在腐蝕應用中(zhong)，最(zui)(zui)(zui)(zui)小(xiao)剩余壁(bi)厚(hou)(hou)通常是要測(ce)(ce)(ce)(ce)量的(de)(de)(de)參數(shu)，因此(ci)了解所(suo)用探頭(tou)的(de)(de)(de)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)范圍至關重要。如果(guo)使(shi)用雙晶(jing)探頭(tou)測(ce)(ce)(ce)(ce)量一個(ge)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)低于可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)最(zui)(zui)(zui)(zui)小(xiao)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)值(zhi)的(de)(de)(de)樣件(jian)，則(ze)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀可(ke)(ke)(ke)能會(hui)(hui)(hui)探測(ce)(ce)(ce)(ce)到(dao)無效(xiao)回波，而屏幕(mu)上可(ke)(ke)(ke)能會(hui)(hui)(hui)錯誤地顯示很高的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)讀(du)數(shu)。下面的(de)(de)(de)表中(zhong)列(lie)出了38DL PLUS和45MG測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀在使(shi)用標(biao)準探頭(tou)測(ce)(ce)(ce)(ce)量鋼材(cai)(cai)料(liao)時可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)到(dao)的(de)(de)(de)大約最(zui)(zui)(zui)(zui)小(xiao)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)。注意(yi)這(zhe)些(xie)數(shu)字是約略(lve)值(zhi)。具體應用中(zhong)確(que)切的(de)(de)(de)最(zui)(zui)(zui)(zui)小(xiao)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)值(zhi)取決(jue)于材(cai)(cai)料(liao)聲速、表面條件(jian)，以及(ji)材(cai)(cai)料(liao)的(de)(de)(de)幾何(he)形狀，而且用戶需通過實驗(yan)確(que)定這(zhe)個(ge)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)值(zhi)。

對(dui)于(yu)半(ban)徑(jing)等于(yu)或低于(yu)所規定的(de)最小半(ban)徑(jing)值的(de)樣(yang)件，可能需(xu)要調整(zheng)增(zeng)益，以進行準確(que)的(de)測量。