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美國(guo)DeFelsko 非金(jin)屬材(cai)料超(chao)聲波(bo)涂層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀(yi)-PosiTector200C可用于測(ce)量(liang)(liang)混泥土、玻璃鋼上(shang)的(de)涂層(ceng)(ceng)，可在(zai)同(tong)一測(ce)量(liang)(liang)點上(shang)連續顯示讀數(shu)，保(bao)證測(ce)量(liang)(liang)的(de)準確性(xing)和(he)重復性(xing)，通(tong)用型主(zhu)機，可連接所有(you)PosiTector 6000,200，SPG，DPM和(he)UTG探頭(tou)，可以輕易從測(ce)厚儀(yi)轉化為表面粗糙度(du)儀(yi)，露點儀(yi)或超(chao)聲波(bo)測(ce)厚儀(yi)

更新日期：2024-01-15

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MiniTest 700系列(lie)涂層測(ce)厚(hou)儀提供三款機型(xing)分(fen)別德(de)(de)國EPK MiniTest 725涂層測(ce)厚(hou)儀具(ju)有(you)內(nei)置探(tan)(tan)頭，德(de)(de)國EPK MiniTest 735涂層測(ce)厚(hou)儀及帶外(wai)置探(tan)(tan)頭結合了精度(du)高(gao)、易于測(ce)量。該有(you)線探(tan)(tan)頭可(ke)以很方便的測(ce)量難(nan)以夠到的地方。德(de)(de)國EPK MiniTest 745涂層測(ce)厚(hou)儀是該系列(lie)的top型(xing)號 - 得益于其(qi)靈活(huo)的探(tan)(tan)頭設計(ji)。其(qi)內(nei)置的探(tan)(tan)頭可(ke)以很容(rong)易地轉化為外(wai)置的探(tan)(tan)頭。

更新日期：2024-01-18

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MiniTest 700系(xi)列涂(tu)(tu)層測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)提供三(san)款(kuan)機(ji)型分(fen)別德國EPK MiniTest 725涂(tu)(tu)層測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)具有(you)內置探(tan)頭(tou)，德國EPK MiniTest 735涂(tu)(tu)層測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)及帶外置探(tan)頭(tou)結(jie)合了精(jing)度高、易(yi)于測(ce)(ce)(ce)量(liang)。該有(you)線探(tan)頭(tou)可(ke)以很(hen)方便的(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)難以夠到的(de)地方。MiniTest 745涂(tu)(tu)層測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)是該系(xi)列的(de)top型號 - 得益于其靈活的(de)探(tan)頭(tou)設(she)計。其內置的(de)探(tan)頭(tou)可(ke)以很(hen)容(rong)易(yi)地轉化為外置的(de)探(tan)頭(tou)。

更新日期：2024-01-18

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MiniTest 700系(xi)列涂(tu)層測厚(hou)(hou)(hou)儀提供三款(kuan)機型(xing)分別(bie)德國EPK MiniTest 725涂(tu)層測厚(hou)(hou)(hou)儀具有內(nei)置(zhi)探(tan)頭(tou)(tou)，MiniTest 735涂(tu)層測厚(hou)(hou)(hou)儀及帶(dai)外(wai)(wai)置(zhi)探(tan)頭(tou)(tou)結合了(le)精度高、易于(yu)測量。該(gai)有線(xian)探(tan)頭(tou)(tou)可(ke)以很方便的(de)(de)(de)測量難(nan)以夠(gou)到的(de)(de)(de)地(di)方。MiniTest 745涂(tu)層測厚(hou)(hou)(hou)儀是該(gai)系(xi)列的(de)(de)(de)top型(xing)號 - 得益(yi)于(yu)其靈活的(de)(de)(de)探(tan)頭(tou)(tou)設計(ji)。其內(nei)置(zhi)的(de)(de)(de)探(tan)頭(tou)(tou)可(ke)以很容易地(di)轉化為外(wai)(wai)置(zhi)的(de)(de)(de)探(tan)頭(tou)(tou)。

更新日期：2024-01-18

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德國EPK MiniTest 7400 涂層測(ce)厚儀采用(yong)(yong)直(zhi)觀(guan)的菜單控制及與上下(xia)文相(xiang)關的聯(lian)機幫助，使(shi)(shi)用(yong)(yong)簡易。大背光按鍵，即使(shi)(shi)戴(dai)著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供很好的觀(guan)察效果(guo)，即使(shi)(shi)在(zai)晚上或(huo)能(neng)見度極低的條件下(xia)使(shi)(shi)用(yong)(yong)也極其方便。

更新日期：2024-01-18

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日立CMI760鍍層測(ce)厚(hou)(hou)儀一(yi)臺設備(bei)測(ce)試銅(tong)箔、覆銅(tong)板、表面(mian)銅(tong)、銅(tong)線(xian)條(tiao)和(he)孔壁銅(tong)厚(hou)(hou)度，并采用統計軟件(jian)顯示測(ce)試數據。該儀器具(ju)備(bei)可(ke)擴展性(xing)，能夠實施微(wei)電阻和(he)渦電流測(ce)試,以高精度測(ce)量銅(tong)厚(hou)(hou)。并提(ti)供選購的(de)附件(jian)來測(ce)量孔銅(tong)厚(hou)(hou)度。CMI760包括帶系繩和(he)用戶可(ke)更換 SRP-4 探(tan)針，帶來額(e)外的(de)便利性(xing)且更具(ju)成本效益。此(ci)探(tan)針包含4個牢固封入的(de)插腳，這(zhe)—設計不僅(jin)實現了(le)耐用還可(ke)抗破裂和(he)磨損。

更新日期：2024-01-18

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日立CMI563手持式(shi)鍍層測(ce)厚儀采(cai)用微(wei)電阻技術，可對表面(mian)(mian)銅(tong)(tong)覆(fu)銅(tong)(tong)板、化(hua)學銅(tong)(tong)或有電鍍銅(tong)(tong)的精(jing)確厚度(du)測(ce)量，同時確保PCB的背面(mian)(mian)銅(tong)(tong)箔(bo)不(bu)會(hui)干擾到(dao)讀數(不(bu)考慮覆(fu)銅(tong)(tong)板的厚度(du))。我們(men)的CM563可對柔(rou)性或剛性的單面(mian)(mian)、雙(shuang)面(mian)(mian)或多層板材實施表面(mian)(mian)銅(tong)(tong)厚度(du)測(ce)量。

更新日期：2024-01-18

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日立(li)CMI511手持式孔銅(tong)測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)采(cai)用電(dian)渦流原理(li)主要(yao)用來測(ce)量(liang)(liang)孔內鍍(du)銅(tong)厚(hou)(hou)度(du)并(bing)帶有(you)(you)溫(wen)度(du)補償(chang)功能銅(tong)箔厚(hou)(hou)度(du)測(ce)量(liang)(liang)，該功能可(ke)減(jian)少廢料并(bing)避免昂貴(gui)的(de)(de)返工。該儀(yi)表(biao)的(de)(de)自動溫(wen)度(du)校正可(ke)實現其應有(you)(you)的(de)(de)準確性，即使(shi)對已經從電(dian)鍍(du)槽中提起(qi)的(de)(de)板材，也能準確測(ce)量(liang)(liang)。它可(ke)測(ce)量(liang)(liang)雙面或多層(ceng)板材，即使(shi)對于(yu)采(cai)用錫和(he)錫/鉛電(dian)鍍(du)的(de)(de)板材，也能實現準確測(ce)量(liang)(liang)。提供(gong)即時(shi)測(ce)量(liang)(liang)功能，易(yi)于(yu)使(shi)用，操作員無需進行相關培訓。

更新日期：2024-01-18

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