幾乎任何由普通(tong)結構(gou)金(jin)屬(shu)(shu)(shu)制成的(de)樣(yang)件(jian)(jian)都容易受到腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)。很多行(xing)業面(mian)臨的(de)一(yi)(yi)個特(te)別嚴重的(de)問題是(shi)對內側可能(neng)出(chu)現了(le)銹蝕(shi)(shi)的(de)管道(dao)、管子或(huo)(huo)箱(xiang)罐的(de)剩(sheng)余壁(bi)厚(hou)進(jin)行(xing)測量。在(zai)沒有切割或(huo)(huo)拆卸管道(dao)或(huo)(huo)箱(xiang)罐的(de)情況下，僅憑肉眼觀察，通(tong)常(chang)不能(neng)發現這(zhe)類銹蝕(shi)(shi)缺(que)陷。結構(gou)性鋼梁，特(te)別是(shi)橋梁的(de)支柱和鋼樁，也很容易受到腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)，而(er)腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)就會(hui)使這(zhe)些(xie)部件(jian)(jian)原來(lai)的(de)金(jin)屬(shu)(shu)(shu)厚(hou)度(du)減少。如果出(chu)現了(le)腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)，卻在(zai)相(xiang)當長的(de)一(yi)(yi)段時間(jian)內沒有被發現，則腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)會(hui)蔓延，會(hui)減弱(ruo)金(jin)屬(shu)(shu)(shu)壁(bi)的(de)支撐強(qiang)度(du)，還可能(neng)導致危(wei)險的(de)結構(gou)性損(sun)壞。考慮到安全(quan)和經(jing)濟兩個方(fang)面(mian)的(de)因素(su)，我們需要對易受腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)的(de)金(jin)屬(shu)(shu)(shu)管道(dao)、金(jin)屬(shu)(shu)(shu)箱(xiang)罐或(huo)(huo)金(jin)屬(shu)(shu)(shu)結構(gou)框架進(jin)行(xing)定期檢(jian)測。在(zai)這(zhe)類腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)檢(jian)測應用(yong)中，超聲(sheng)檢(jian)測是(shi)一(yi)(yi)種已經(jing)得(de)到廣泛認可的(de)無損(sun)檢(jian)測方(fang)式，而(er)對銹蝕(shi)(shi)金(jin)屬(shu)(shu)(shu)的(de)超聲(sheng)檢(jian)測通(tong)常(chang)使用(yong)雙晶(jing)探(tan)頭完成。

有幾種小型手持式超聲測(ce)厚(hou)儀(yi)專門用于腐蝕測(ce)量應用。一(yi)(yi)般(ban)來說，這(zhe)些測(ce)厚(hou)儀(yi)需要與一(yi)(yi)組(zu)(zu)專用的(de)雙(shuang)晶探(tan)(tan)頭(tou)一(yi)(yi)起(qi)使用完成檢測(ce)應用。這(zhe)組(zu)(zu)探(tan)(tan)頭(tou)涵蓋(gai)了各種厚(hou)度(du)(du)范圍和(he)各種溫度(du)(du)條(tiao)件。在某些關(guan)鍵性(xing)的(de)應用中，特別(bie)是(shi)在溫度(du)(du)較高的(de)情況下(xia)，用戶可能會要求使用一(yi)(yi)種超聲波形顯(xian)示視圖(tu)，以核查是(shi)否探(tan)(tan)測(ce)到了有效的(de)回波。38DL PLUS超聲測厚儀的(de)波(bo)形顯(xian)示視圖可滿足用戶的(de)這種(zhong)要(yao)求。要(yao)了解有關這款儀器的(de)完整信息，請參閱儀器的(de)數據表。另一(yi)款專(zhuan)用于這類檢測的(de)儀器是45MG測厚儀。在(zai)腐蝕(shi)檢測應(ying)用中，雙晶探(tan)頭可有效(xiao)地與探(tan)傷儀一起使用。數字式探(tan)傷儀，如(ru)：奧(ao)林巴斯的(de)EPOCH系列（EPOCH 650和EPOCH 6LT探傷儀），不僅可以(yi)進行厚度測量，還可以(yi)提(ti)供波(bo)形(xing)顯示(shi)視圖。

探頭選擇

任何超聲測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)系(xi)統(tong)（探(tan)頭(tou)(tou)加測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)，或(huo)探(tan)頭(tou)(tou)加探(tan)傷儀(yi)）都有一個(ge)(ge)最小(xiao)(xiao)可(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)度(du)，低(di)于這個(ge)(ge)限度(du)，就不(bu)會(hui)完成有效的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)。通(tong)常，在(zai)生產商的(de)說明文件中(zhong)會(hui)明確標出這個(ge)(ge)最小(xiao)(xiao)可(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)度(du)值(zhi)。隨著(zhu)探(tan)頭(tou)(tou)頻(pin)率的(de)增(zeng)加，最小(xiao)(xiao)可(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)度(du)會(hui)降低(di)。 在(zai)腐(fu)蝕應(ying)用(yong)中(zhong)，最小(xiao)(xiao)剩余(yu)壁厚(hou)(hou)(hou)通(tong)常是(shi)要(yao)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)的(de)參數，因(yin)此(ci)了解所用(yong)探(tan)頭(tou)(tou)的(de)可(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)度(du)范圍(wei)至(zhi)關重要(yao)。如果使(shi)用(yong)雙晶探(tan)頭(tou)(tou)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)一個(ge)(ge)厚(hou)(hou)(hou)度(du)低(di)于可(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)最小(xiao)(xiao)厚(hou)(hou)(hou)度(du)值(zhi)的(de)樣件，則(ze)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)可(ke)(ke)能會(hui)探(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)到無(wu)效回波，而(er)屏幕(mu)上可(ke)(ke)能會(hui)錯誤地顯示很高(gao)的(de)厚(hou)(hou)(hou)度(du)讀(du)數。下面的(de)表中(zhong)列出了38DL PLUS和(he)45MG測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)在(zai)使(shi)用(yong)標準探(tan)頭(tou)(tou)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)鋼(gang)材料時可(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)到的(de)大約最小(xiao)(xiao)厚(hou)(hou)(hou)度(du)。注(zhu)意這些數字是(shi)約略值(zhi)。具體應(ying)用(yong)中(zhong)確切的(de)最小(xiao)(xiao)可(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)度(du)值(zhi)取決于材料聲速、表面條件，以及材料的(de)幾何形狀，而(er)且用(yong)戶(hu)需通(tong)過實驗確定這個(ge)(ge)厚(hou)(hou)(hou)度(du)值(zhi)。

對于(yu)半(ban)徑等(deng)于(yu)或低于(yu)所規定的(de)(de)最小半(ban)徑值的(de)(de)樣(yang)件，可能需要調(diao)整增(zeng)益，以進行準確(que)的(de)(de)測量。