幾乎任(ren)何由(you)普通結構金屬(shu)(shu)制(zhi)成的(de)(de)樣件(jian)都(dou)容易受(shou)到腐(fu)(fu)蝕(shi)。很多行(xing)(xing)業面(mian)臨的(de)(de)一(yi)個(ge)特別嚴重的(de)(de)問(wen)題是對內側(ce)可(ke)能(neng)(neng)出(chu)現了銹蝕(shi)的(de)(de)管道(dao)、管子或箱(xiang)罐的(de)(de)剩余壁(bi)厚進行(xing)(xing)測量(liang)。在(zai)沒有切割或拆卸(xie)管道(dao)或箱(xiang)罐的(de)(de)情況下(xia)，僅(jin)憑肉眼觀察，通常(chang)不(bu)能(neng)(neng)發(fa)(fa)現這(zhe)類銹蝕(shi)缺陷。結構性(xing)(xing)鋼(gang)梁，特別是橋(qiao)梁的(de)(de)支(zhi)柱和(he)鋼(gang)樁，也很容易受(shou)到腐(fu)(fu)蝕(shi)，而腐(fu)(fu)蝕(shi)就會使這(zhe)些部件(jian)原來的(de)(de)金屬(shu)(shu)厚度減少。如果出(chu)現了腐(fu)(fu)蝕(shi)，卻在(zai)相當長(chang)的(de)(de)一(yi)段(duan)時間(jian)內沒有被發(fa)(fa)現，則(ze)腐(fu)(fu)蝕(shi)會蔓延，會減弱金屬(shu)(shu)壁(bi)的(de)(de)支(zhi)撐強度，還可(ke)能(neng)(neng)導(dao)致危(wei)險(xian)的(de)(de)結構性(xing)(xing)損(sun)壞(huai)。考慮到安全和(he)經濟兩個(ge)方(fang)面(mian)的(de)(de)因素，我們需要對易受(shou)腐(fu)(fu)蝕(shi)的(de)(de)金屬(shu)(shu)管道(dao)、金屬(shu)(shu)箱(xiang)罐或金屬(shu)(shu)結構框架進行(xing)(xing)定期檢測。在(zai)這(zhe)類腐(fu)(fu)蝕(shi)檢測應用中，超聲(sheng)(sheng)檢測是一(yi)種(zhong)已(yi)經得到廣(guang)泛認可(ke)的(de)(de)無損(sun)檢測方(fang)式，而對銹蝕(shi)金屬(shu)(shu)的(de)(de)超聲(sheng)(sheng)檢測通常(chang)使用雙晶(jing)探頭完成。

有(you)(you)幾種小型手(shou)持式超聲測厚儀專(zhuan)門用(yong)于腐(fu)蝕測量應(ying)(ying)用(yong)。一般來說，這(zhe)些測厚儀需要與一組專(zhuan)用(yong)的(de)(de)雙晶(jing)探頭一起(qi)使(shi)用(yong)完成檢測應(ying)(ying)用(yong)。這(zhe)組探頭涵蓋了各(ge)種厚度范圍(wei)和各(ge)種溫(wen)(wen)度條件。在某些關鍵性(xing)的(de)(de)應(ying)(ying)用(yong)中，特別是在溫(wen)(wen)度較高的(de)(de)情況下，用(yong)戶(hu)可(ke)能會要求使(shi)用(yong)一種超聲波形顯示視圖(tu)，以(yi)核查是否探測到(dao)了有(you)(you)效(xiao)的(de)(de)回波。38DL PLUS超聲(sheng)測厚儀(yi)的(de)(de)(de)波形顯(xian)示(shi)視圖可滿足用戶的(de)(de)(de)這(zhe)種要求。要了解有關這(zhe)款儀(yi)器(qi)的(de)(de)(de)完整信息，請(qing)參閱儀(yi)器(qi)的(de)(de)(de)數據表。另一款專用于(yu)這(zhe)類檢測的(de)(de)(de)儀(yi)器(qi)是45MG測厚儀。在腐(fu)蝕檢(jian)測應用(yong)中，雙晶(jing)探(tan)頭可有(you)效地與探(tan)傷儀一起使用(yong)。數字式探(tan)傷儀，如：奧林巴斯的EPOCH系列（EPOCH 650和(he)EPOCH 6LT探(tan)傷儀），不僅可以進行(xing)厚度測量，還可以提供波形顯示(shi)視圖。

探頭選擇

任(ren)何超聲測(ce)(ce)量(liang)系(xi)統(tong)（探(tan)頭(tou)(tou)加測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)，或探(tan)頭(tou)(tou)加探(tan)傷儀(yi)）都有一(yi)個(ge)(ge)最(zui)小(xiao)(xiao)可(ke)測(ce)(ce)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)，低(di)(di)于(yu)(yu)(yu)這(zhe)個(ge)(ge)限度(du)(du)(du)(du)，就不會(hui)(hui)完成有效的(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)。通(tong)常(chang)，在(zai)(zai)生(sheng)產商的(de)(de)(de)(de)(de)說明文件(jian)(jian)中(zhong)(zhong)會(hui)(hui)明確標出這(zhe)個(ge)(ge)最(zui)小(xiao)(xiao)可(ke)測(ce)(ce)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)值(zhi)(zhi)。隨著探(tan)頭(tou)(tou)頻率的(de)(de)(de)(de)(de)增加，最(zui)小(xiao)(xiao)可(ke)測(ce)(ce)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)會(hui)(hui)降(jiang)低(di)(di)。 在(zai)(zai)腐蝕應用(yong)(yong)中(zhong)(zhong)，最(zui)小(xiao)(xiao)剩余壁厚(hou)通(tong)常(chang)是要測(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)參數(shu)，因(yin)此了(le)解(jie)所用(yong)(yong)探(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)(de)(de)可(ke)測(ce)(ce)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)范圍至關(guan)重(zhong)要。如果使用(yong)(yong)雙晶探(tan)頭(tou)(tou)測(ce)(ce)量(liang)一(yi)個(ge)(ge)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)低(di)(di)于(yu)(yu)(yu)可(ke)測(ce)(ce)最(zui)小(xiao)(xiao)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)值(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)樣(yang)件(jian)(jian)，則(ze)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)可(ke)能(neng)會(hui)(hui)探(tan)測(ce)(ce)到無效回波，而(er)屏幕上可(ke)能(neng)會(hui)(hui)錯誤地顯示很高的(de)(de)(de)(de)(de)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)讀數(shu)。下面的(de)(de)(de)(de)(de)表中(zhong)(zhong)列出了(le)38DL PLUS和45MG測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)在(zai)(zai)使用(yong)(yong)標準探(tan)頭(tou)(tou)測(ce)(ce)量(liang)鋼材料(liao)時可(ke)測(ce)(ce)到的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)約(yue)最(zui)小(xiao)(xiao)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)。注意這(zhe)些數(shu)字(zi)是約(yue)略值(zhi)(zhi)。具體(ti)應用(yong)(yong)中(zhong)(zhong)確切(qie)的(de)(de)(de)(de)(de)最(zui)小(xiao)(xiao)可(ke)測(ce)(ce)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)值(zhi)(zhi)取決(jue)于(yu)(yu)(yu)材料(liao)聲速(su)、表面條件(jian)(jian)，以及材料(liao)的(de)(de)(de)(de)(de)幾(ji)何形狀，而(er)且(qie)用(yong)(yong)戶需通(tong)過實驗確定(ding)這(zhe)個(ge)(ge)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)值(zhi)(zhi)。

對(dui)于半(ban)徑等于或(huo)低(di)于所規定(ding)的最小半(ban)徑值(zhi)的樣件(jian)，可能(neng)需(xu)要調整增(zeng)益，以(yi)進行準確(que)的測(ce)量。