幾乎任何由(you)普通結(jie)(jie)構金(jin)屬(shu)制成的(de)(de)(de)(de)(de)樣件都容易(yi)受到(dao)腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。很多行(xing)業(ye)面(mian)臨的(de)(de)(de)(de)(de)一個(ge)特(te)別嚴(yan)重的(de)(de)(de)(de)(de)問題是對(dui)(dui)內側可(ke)能出(chu)(chu)現(xian)了銹蝕(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)管(guan)(guan)道(dao)、管(guan)(guan)子或(huo)箱罐的(de)(de)(de)(de)(de)剩余壁厚(hou)進行(xing)測(ce)(ce)量。在(zai)沒(mei)有(you)切割或(huo)拆卸管(guan)(guan)道(dao)或(huo)箱罐的(de)(de)(de)(de)(de)情況下(xia)，僅憑(ping)肉眼觀察，通常(chang)不能發(fa)現(xian)這(zhe)類銹蝕(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)缺陷。結(jie)(jie)構性鋼(gang)梁，特(te)別是橋梁的(de)(de)(de)(de)(de)支(zhi)柱和鋼(gang)樁，也很容易(yi)受到(dao)腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)，而腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)就會使這(zhe)些部件原來的(de)(de)(de)(de)(de)金(jin)屬(shu)厚(hou)度減少。如(ru)果出(chu)(chu)現(xian)了腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)，卻在(zai)相(xiang)當長的(de)(de)(de)(de)(de)一段時間內沒(mei)有(you)被發(fa)現(xian)，則腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)會蔓延(yan)，會減弱金(jin)屬(shu)壁的(de)(de)(de)(de)(de)支(zhi)撐(cheng)強度，還可(ke)能導致危險的(de)(de)(de)(de)(de)結(jie)(jie)構性損(sun)壞。考慮(lv)到(dao)安(an)全和經濟兩個(ge)方面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)因素，我(wo)們(men)需要對(dui)(dui)易(yi)受腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)金(jin)屬(shu)管(guan)(guan)道(dao)、金(jin)屬(shu)箱罐或(huo)金(jin)屬(shu)結(jie)(jie)構框(kuang)架進行(xing)定期檢(jian)測(ce)(ce)。在(zai)這(zhe)類腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)檢(jian)測(ce)(ce)應用中，超(chao)聲(sheng)檢(jian)測(ce)(ce)是一種已經得到(dao)廣泛認可(ke)的(de)(de)(de)(de)(de)無損(sun)檢(jian)測(ce)(ce)方式，而對(dui)(dui)銹蝕(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)金(jin)屬(shu)的(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)檢(jian)測(ce)(ce)通常(chang)使用雙晶探頭完成。

有幾種(zhong)小型手持式超(chao)聲測(ce)(ce)(ce)(ce)厚儀(yi)專(zhuan)門用(yong)(yong)于(yu)腐蝕測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)應用(yong)(yong)。一(yi)般來說(shuo)，這(zhe)些測(ce)(ce)(ce)(ce)厚儀(yi)需要(yao)(yao)與(yu)一(yi)組(zu)專(zhuan)用(yong)(yong)的(de)(de)雙(shuang)晶探(tan)(tan)頭一(yi)起使用(yong)(yong)完(wan)成檢測(ce)(ce)(ce)(ce)應用(yong)(yong)。這(zhe)組(zu)探(tan)(tan)頭涵蓋了(le)各種(zhong)厚度(du)范(fan)圍和各種(zhong)溫度(du)條件。在(zai)某些關鍵(jian)性(xing)的(de)(de)應用(yong)(yong)中，特別是在(zai)溫度(du)較高的(de)(de)情(qing)況下，用(yong)(yong)戶可(ke)能會要(yao)(yao)求使用(yong)(yong)一(yi)種(zhong)超(chao)聲波形(xing)顯(xian)示(shi)視圖，以核查是否探(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)到了(le)有效(xiao)的(de)(de)回(hui)波。38DL PLUS超(chao)聲測(ce)(ce)(ce)(ce)厚儀(yi)的(de)(de)波形(xing)顯(xian)示(shi)視圖可(ke)滿足用(yong)(yong)戶的(de)(de)這(zhe)種(zhong)要(yao)(yao)求。要(yao)(yao)了(le)解有關這(zhe)款儀(yi)器(qi)的(de)(de)完(wan)整信息，請(qing)參(can)閱儀(yi)器(qi)的(de)(de)數據表(biao)。另(ling)一(yi)款專(zhuan)用(yong)(yong)于(yu)這(zhe)類檢測(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)(de)儀(yi)器(qi)是45MG測(ce)(ce)(ce)(ce)厚儀(yi)。在(zai)腐蝕檢測(ce)(ce)(ce)(ce)應用(yong)(yong)中，雙(shuang)晶探(tan)(tan)頭可(ke)有效(xiao)地與(yu)探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)一(yi)起使用(yong)(yong)。數字式探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)，如：奧林(lin)巴斯(si)的(de)(de)EPOCH系列(lie)（EPOCH 650和EPOCH 6LT探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)），不僅可(ke)以進行厚度(du)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)，還可(ke)以提供波形(xing)顯(xian)示(shi)視圖。

探頭選擇

任何超聲測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)系統（探(tan)頭(tou)加測(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀，或探(tan)頭(tou)加探(tan)傷儀）都有一(yi)(yi)個(ge)最(zui)小(xiao)(xiao)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)，低(di)于這個(ge)限(xian)度(du)(du)(du)，就(jiu)不(bu)會完成(cheng)有效的(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)。通(tong)(tong)常(chang)，在(zai)生產商的(de)說明文件(jian)中(zhong)會明確標出(chu)(chu)這個(ge)最(zui)小(xiao)(xiao)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)值(zhi)。隨(sui)著探(tan)頭(tou)頻率的(de)增加，最(zui)小(xiao)(xiao)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)會降低(di)。 在(zai)腐蝕應用中(zhong)，最(zui)小(xiao)(xiao)剩余壁厚(hou)(hou)通(tong)(tong)常(chang)是要(yao)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)參數(shu)，因(yin)此了(le)(le)解(jie)所(suo)用探(tan)頭(tou)的(de)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)范圍至關重要(yao)。如果使用雙晶探(tan)頭(tou)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)一(yi)(yi)個(ge)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)低(di)于可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)最(zui)小(xiao)(xiao)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)值(zhi)的(de)樣件(jian)，則測(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀可(ke)(ke)(ke)能會探(tan)測(ce)(ce)(ce)到無(wu)效回(hui)波，而(er)屏幕(mu)上可(ke)(ke)(ke)能會錯(cuo)誤地顯示很高的(de)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)讀(du)數(shu)。下(xia)面的(de)表中(zhong)列出(chu)(chu)了(le)(le)38DL PLUS和45MG測(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀在(zai)使用標準(zhun)探(tan)頭(tou)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)鋼(gang)材料(liao)時可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)到的(de)大約(yue)最(zui)小(xiao)(xiao)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)。注(zhu)意這些數(shu)字是約(yue)略值(zhi)。具(ju)體應用中(zhong)確切的(de)最(zui)小(xiao)(xiao)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)值(zhi)取決于材料(liao)聲速、表面條件(jian)，以及(ji)材料(liao)的(de)幾何形(xing)狀(zhuang)，而(er)且用戶需通(tong)(tong)過實驗(yan)確定這個(ge)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)值(zhi)。