幾乎(hu)任何由(you)普通結構金屬(shu)制成的(de)(de)(de)(de)(de)樣(yang)件都(dou)容易(yi)(yi)受(shou)到(dao)腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)。很多行(xing)(xing)業面(mian)臨的(de)(de)(de)(de)(de)一(yi)個特(te)別嚴重(zhong)的(de)(de)(de)(de)(de)問題是對內側可能(neng)(neng)出現(xian)(xian)了(le)銹蝕(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)管(guan)道(dao)(dao)、管(guan)子(zi)或(huo)箱罐(guan)(guan)的(de)(de)(de)(de)(de)剩余壁厚(hou)進行(xing)(xing)測(ce)(ce)量。在(zai)沒(mei)有(you)切割(ge)或(huo)拆(chai)卸管(guan)道(dao)(dao)或(huo)箱罐(guan)(guan)的(de)(de)(de)(de)(de)情況下(xia)，僅憑肉眼觀察，通常不能(neng)(neng)發現(xian)(xian)這類銹蝕(shi)(shi)(shi)缺陷。結構性(xing)鋼梁(liang)，特(te)別是橋梁(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)支柱和鋼樁，也很容易(yi)(yi)受(shou)到(dao)腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)，而(er)腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)就會(hui)使這些(xie)部件原來的(de)(de)(de)(de)(de)金屬(shu)厚(hou)度減少。如果出現(xian)(xian)了(le)腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)，卻在(zai)相當長(chang)的(de)(de)(de)(de)(de)一(yi)段(duan)時(shi)間內沒(mei)有(you)被發現(xian)(xian)，則腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)會(hui)蔓延，會(hui)減弱金屬(shu)壁的(de)(de)(de)(de)(de)支撐強度，還可能(neng)(neng)導致(zhi)危險(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)結構性(xing)損壞。考(kao)慮到(dao)安全和經濟兩個方面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)因素，我(wo)們需要對易(yi)(yi)受(shou)腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)金屬(shu)管(guan)道(dao)(dao)、金屬(shu)箱罐(guan)(guan)或(huo)金屬(shu)結構框架進行(xing)(xing)定期檢(jian)(jian)測(ce)(ce)。在(zai)這類腐(fu)(fu)蝕(shi)(shi)(shi)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)應用中，超聲檢(jian)(jian)測(ce)(ce)是一(yi)種已經得到(dao)廣泛認可的(de)(de)(de)(de)(de)無損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)方式，而(er)對銹蝕(shi)(shi)(shi)金屬(shu)的(de)(de)(de)(de)(de)超聲檢(jian)(jian)測(ce)(ce)通常使用雙晶探頭完成。

有幾(ji)種(zhong)(zhong)小(xiao)型(xing)手持(chi)式(shi)(shi)超(chao)聲測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)專(zhuan)門用(yong)(yong)于(yu)腐蝕(shi)測(ce)(ce)量應(ying)(ying)(ying)用(yong)(yong)。一般(ban)來(lai)說，這(zhe)(zhe)些測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)需要(yao)與一組專(zhuan)用(yong)(yong)的(de)雙(shuang)晶探(tan)頭(tou)一起使(shi)用(yong)(yong)完成檢測(ce)(ce)應(ying)(ying)(ying)用(yong)(yong)。這(zhe)(zhe)組探(tan)頭(tou)涵蓋(gai)了(le)各種(zhong)(zhong)厚(hou)(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)(du)范圍和各種(zhong)(zhong)溫度(du)(du)條件。在某(mou)些關鍵(jian)性的(de)應(ying)(ying)(ying)用(yong)(yong)中(zhong)，特別是在溫度(du)(du)較高(gao)的(de)情況下，用(yong)(yong)戶(hu)可能會要(yao)求(qiu)使(shi)用(yong)(yong)一種(zhong)(zhong)超(chao)聲波(bo)形(xing)顯示視圖，以核查是否探(tan)測(ce)(ce)到了(le)有效的(de)回波(bo)。38DL PLUS超(chao)聲測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)的(de)波(bo)形(xing)顯示視圖可滿(man)足用(yong)(yong)戶(hu)的(de)這(zhe)(zhe)種(zhong)(zhong)要(yao)求(qiu)。要(yao)了(le)解有關這(zhe)(zhe)款(kuan)儀(yi)(yi)器的(de)完整(zheng)信息(xi)，請參閱儀(yi)(yi)器的(de)數據表。另一款(kuan)專(zhuan)用(yong)(yong)于(yu)這(zhe)(zhe)類(lei)檢測(ce)(ce)的(de)儀(yi)(yi)器是45MG測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)。在腐蝕(shi)檢測(ce)(ce)應(ying)(ying)(ying)用(yong)(yong)中(zhong)，雙(shuang)晶探(tan)頭(tou)可有效地與探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)一起使(shi)用(yong)(yong)。數字式(shi)(shi)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)，如：奧(ao)林巴斯的(de)EPOCH系列（EPOCH 650和EPOCH 6LT探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)），不(bu)僅可以進行厚(hou)(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)(du)測(ce)(ce)量，還可以提供波(bo)形(xing)顯示視圖。

探頭選擇

任何超(chao)聲測(ce)(ce)量系統（探(tan)(tan)頭加測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀，或探(tan)(tan)頭加探(tan)(tan)傷(shang)儀）都有一個(ge)最(zui)小(xiao)(xiao)(xiao)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)，低于(yu)這(zhe)(zhe)個(ge)限度(du)(du)，就(jiu)不會(hui)完成有效的(de)(de)測(ce)(ce)量。通常，在(zai)生產商的(de)(de)說(shuo)明文件(jian)中會(hui)明確(que)標出這(zhe)(zhe)個(ge)最(zui)小(xiao)(xiao)(xiao)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)值(zhi)。隨著探(tan)(tan)頭頻率的(de)(de)增加，最(zui)小(xiao)(xiao)(xiao)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)會(hui)降低。 在(zai)腐蝕(shi)應用(yong)(yong)(yong)中，最(zui)小(xiao)(xiao)(xiao)剩余(yu)壁厚(hou)(hou)通常是(shi)(shi)要(yao)測(ce)(ce)量的(de)(de)參(can)數，因此了解所用(yong)(yong)(yong)探(tan)(tan)頭的(de)(de)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)范圍(wei)至(zhi)關(guan)重(zhong)要(yao)。如果使用(yong)(yong)(yong)雙晶探(tan)(tan)頭測(ce)(ce)量一個(ge)厚(hou)(hou)度(du)(du)低于(yu)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)最(zui)小(xiao)(xiao)(xiao)厚(hou)(hou)度(du)(du)值(zhi)的(de)(de)樣(yang)件(jian)，則測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀可(ke)(ke)(ke)能(neng)會(hui)探(tan)(tan)測(ce)(ce)到無效回波，而屏幕上可(ke)(ke)(ke)能(neng)會(hui)錯誤地顯示很高的(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)(du)讀數。下(xia)面(mian)的(de)(de)表(biao)(biao)中列出了38DL PLUS和45MG測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀在(zai)使用(yong)(yong)(yong)標準(zhun)探(tan)(tan)頭測(ce)(ce)量鋼(gang)材料(liao)(liao)時(shi)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)到的(de)(de)大約最(zui)小(xiao)(xiao)(xiao)厚(hou)(hou)度(du)(du)。注意這(zhe)(zhe)些數字(zi)是(shi)(shi)約略值(zhi)。具(ju)體應用(yong)(yong)(yong)中確(que)切的(de)(de)最(zui)小(xiao)(xiao)(xiao)可(ke)(ke)(ke)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)度(du)(du)值(zhi)取決于(yu)材料(liao)(liao)聲速、表(biao)(biao)面(mian)條件(jian)，以及材料(liao)(liao)的(de)(de)幾(ji)何形狀，而且用(yong)(yong)(yong)戶(hu)需(xu)通過實驗確(que)定這(zhe)(zhe)個(ge)厚(hou)(hou)度(du)(du)值(zhi)。